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Sensofar共聚焦白光干涉儀測量原理

更新時間:2024-11-29點擊次數:417

增強型光學測量技術

雖然一開始作為高性能 3D 光學輪廓儀設計,但是我們的某些系統勝過所*現有的光學輪廓儀,集所有技術于一身。

條紋投影

AI 多焦面疊加

共聚焦

干涉

光譜反射

Fringe Projection measurement of a Tablet, high vertical accuracy

fringe_projection_tech

條紋投影非常適合大面積測量,垂直
精度和可重復性高,
系統噪聲低。

了解更多

產品陣容

技術組合

我們的系統采用不同光學測量技術進行工作,一部分系統采用組合技術。聚集這些技術的優點,外加*新技*和操作軟件,成就市場上*具競爭力的高級測量設備。

S wide technologies

S neox technologies

S lynx & S mart2

s-onix2

為何使用四合一技術?

4-in-1 optical metrology techniques graph

采用 Sensofar 的四合一法 – 正如 S neox 系統那樣 – 在軟件中單擊一次就可將系統切換到適合當前任務的技術。S neox 傳感器頭采用 4 種測量技術 – Ai 多焦面疊加、共聚焦、干涉 & 光譜反射 – 因此,每種技術都是實現系統通用性的重要因素,有利于減少數據采集時不希望發生的缺陷,同時提供 Sensofar 的一*表面測量性能。

 

專*技術

微顯示是關鍵!

Sensofar 的系統采用專*微顯示掃描技術。微顯示以硅基鐵電體液晶 (FLCoS) 技術為基礎,打造沒有運動零件的快速切換裝置,使共聚焦圖像掃描快速、可靠、精確。微顯示器結合高分辨率掃描臺和可更換物鏡,構成了一套靈活的光學系統。

3D optical metrology techniques Microdisplay Image


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